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一种耐高温纳米硅薄膜二极管及其制备技术

  • 申请号: 申请公布号:
  • 申请日: 申请公布日: 2017-01-17
  • 申请(专利权)人:BI401031288 专利代理机构:
  • 分类号:

专利介绍

该成果是一种用热丝化学气相沉积(HWCVD)方法进行低成本的耐高温二极管制备的技术,它采用高熔点的钨或钽丝作为催化分解热丝,对通入生长腔体中的气体进行快速分解,通过控制热丝温度、H2稀释比、衬底温度和生长气压等参数,可以实现不同导电类型的纳米硅薄膜的沉积和相关二极管的制备,制备的纳米硅薄膜大面积均匀,载流子浓度和迁移率可控性好。 二、技术特点及技术指标:(突出与国内外同行的比较优势或区别) 1.纳米硅薄膜的禁带宽度大于2.0eV;2. 纳米硅薄膜的晶化率大于90%;3. 纳米硅薄膜二极管的工作温度不低于300oC,远高于传统的晶体硅二极管150oC的最高工作温度。